在使用安規(guī)測試儀時的一些問題解答
1、 何謂耐壓測試?
耐壓測試是常見的安規(guī)測試之一,常見的dielectric withstand、high potential、hipot test都是指耐壓測試。耐壓測試的主要目的測試DUT(Device under Test)的絕緣能力。故當設(shè)備在運作時,對測試點施以一高壓,測試是否有絕緣破壞(Breakdown)或電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC)發(fā)生。
2 、在安規(guī)中絕緣有幾種類型?
絕緣類型分為四種:基本絕緣(Basic)、輔助絕緣(Supplementary)、雙重絕緣(Double)以及加強絕緣(Reinforced)。由於產(chǎn)品內(nèi)部可能因灰塵過多、潮濕或是其他原因?qū)е卵孛娣烹?,因此也須以耐壓測試判斷產(chǎn)品內(nèi)部電路設(shè)計是否有沿面距離或絕緣不足等問題。
3 、在AC耐壓測試時,為何需要real current 的判斷?
AC輸出總電流(total current)可能因部份內(nèi)部容抗而造成與真實測試電流(real current)之間的差異。電流在輸出時,若受到較大容抗時,反應(yīng)電流(reactive)會較大,而使得真實測試電流相對變小。若無法準確測量輸出電流與加以補償,會造成測試上的盲點。
4 、在DC耐壓測試時,為何需要緩升時間?
DC耐壓測試通常會需要加上緩升時間以及放電時間,因為大多的DUT具有電容性而會導(dǎo)致充電電流產(chǎn)生。為了使充電變位電流(charge current)穩(wěn)定,需要緩升時間來緩沖,才不會因充電電流而導(dǎo)致漏電流過高,進而判斷為不良品(FAIL)。
5 、在做耐壓測試時,為何需要緩降時間?
耐壓測試會使DUT充電,因此在耐壓測試結(jié)束時須一段時間來進行放電,優(yōu)良的耐壓測試設(shè)備會將放電時間減至少,并且在未達放電標準前會明顯標示危險警告,以防止測試人員不當接觸而受到電氣傷害。
6 、何謂flashover 電氣閃絡(luò)(ARC)?
安規(guī)標準中明顯指出不得有絕緣破壞(Breakdown)發(fā)生,而部份安規(guī)標準更要求不得有電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC發(fā)生,但并無測試標準。ARC是屬於電氣放電的一種,當ARC發(fā)生時已表示絕緣能力已不足,若多次的ARC發(fā)生,則會導(dǎo)致絕緣破壞。
7 、為何需要做電壓補償?
在耐壓測試中,測試電壓的標準是判斷良品的主要因素之一。許多耐壓測試設(shè)備以變壓器將低電壓轉(zhuǎn)換為高電壓后輸出,但儀器的內(nèi)部阻抗會造成分壓,尤其在一些品質(zhì)不良的耐壓測試設(shè)備中,實際輸出電壓無法達到安規(guī)標準。為避免失誤判定為良品而造成不必要的困擾,優(yōu)良的耐壓測試設(shè)備會以自動增益補償(Auto Gain Compensation)修正與補償電壓至所須電壓值,并將電壓表設(shè)計於輸出端,以便正確量測輸出電壓是否不足。